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真理光學瑰紹︰納米粒度及Zeta電位儀新品首發
2019年01月25日 發布 分類渙械苔︰企業動態 點擊量紡竄︰502
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日前賭,真理光學在其不久前推出納米粒度儀的基礎上增加了膠體顆粒的Zeta電位測量功能替繼,推出了納米粒度及Zeta電位儀新品罰。


 

Nanolink S900/ SZ900納米粒度及Zeta電位儀

 

隨著國內粉體工業的迅速發展盯別崗,對于顆粒物性參數的理解和應用也就越多癌慮。而Zeta電位測量應用廣泛刀痢,是表征膠體分散系穩定性的重要指標土,以制藥為例怯焦鑼,其對乳劑舌粉猾、混懸劑及脂質體等配方研究必須測量Zeta電位亢需。真理光學此次推出新品旁,對于關注和需要顆粒表征的領域來說唉草,意味著有了更多選擇;對于真理光學來說漿倪把,則不僅僅是推出一款新儀器新產品粹合,更意味著產品線的進一步完善絡,當然也是企業發展進入全新階段的開始瘁成蘭。


筆者在粒度儀行業有工作經驗氰犢訴,以上認識正基于此垢。2010年前後寸,納米粒度分析系統依然處在國產儀器的真空區;就在不到兩年前駱姑,基于動態光散射技術和電泳法的國產納米粒度和zeta電位測量系統才突破國外技術壁壘砍降儲。中國粉體工業的整體進步答,很大程度上要歸功于國產激光粒度儀研發生產商的不斷進取人咆。


以下是Nanolink S900/ SZ900納米粒度及Zeta電位儀 的詳細介紹及參數特點四︰


Nanolink S900是基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度分析系統孔墾,被廣泛應用于有機及無機顆粒努、乳液虹享、高分子聚合物江躺吉、表面活性劑諷、膠素科、病毒抗體垢遷算、蛋白質等樣品的顆粒表征虹挎。SZ900S900納米粒度測量功能的基礎上喘,增加了膠體顆粒的Zeta電位測量功能渮。


項目

性能指標或描述(右上角標“*”者僅適用于SZ900

測量原理

動態光散射法蚊擬訟、電泳法*

粒徑範圍

0.6nm-10μm

準確度

優于±1% (平均粒徑琉頗晶,NIST 可溯源乳膠標樣)

重復性

優于±1% (平均粒徑錘湯柔,NIST 可溯源乳膠標樣)

最小樣品濃度

0.1mg/ml

最小樣品量

20μl

測量角度

經典90度

溫度控制範圍

0℃-90℃ (120℃選配)

溫度控制精度

±0.1℃

冷凝控制

干燥氣體吹掃

激光器

532nm固體激光器氓鼎,最大功率50mW, 激光輸出自動可調

激光安全等級

1類

相關器

最小采樣時間25ns, 動態範圍>1011

檢測器

高靈敏度極低暗電流PMT (APD可亞硬帷)

Zeta電位測量範圍*

-600mW+600mW

樣品最大電導率*

200mS/cm

適用粒徑範圍*

3.5nm100?m

光學系統重量

25kg

光學系統尺寸

578mm x 397mm x 248mm(LxWxH)

注憊懷杰︰* 取決于樣品


Nanolink S900納米粒度分析儀技術特點包括:

◆ 經典90°動態光散射技術

◆ 粒徑範圍干使鞏︰0.6nm-10μm

◆ 新一代高速數字相關器揩,最小采樣時間25ns堡想肅,動態範圍大于10??

◆ 集成光縴技術的軍品級PMT檢測單元(APD可尋骸)

◆ 532nm 50mW大功率固體激光器辣捍,能量輸出自動調節

◆ 溫控範圍0℃-90℃淮,精度±0.1℃

◆ 冷凝控制-- 干燥氣體吹掃技術

 

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